GB-T 11279-1989 電子元器件環(huán)境試驗(yàn)使用導(dǎo)則
標(biāo)簽： 11279 GB-T 1989 電子元器件
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GB-T 249-1989 半導(dǎo)體分立器件型號命名方法
標(biāo)簽： GB-T 1989 249 半導(dǎo)體分立器件
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GB-T 3353-1995 人造石英晶體使用指南
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上傳時間： 2013-07-28
GB／T 18135-2000 電氣工程CAD制圖標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)簽： 18135 2000 CAD 電氣工程
上傳時間： 2013-04-15
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標(biāo)簽： 12627 GB-T 1990 軟
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GB-T 11386-1989 信息處理 m 未記錄的硬扇段單面或雙面軟磁盤 尺寸、物理性能和磁性能
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GB-T 2689.2-1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法 (用于威布爾分布)
標(biāo)簽： 2689.2 GB-T 1981 壽命
上傳時間： 2013-07-04
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標(biāo)簽： 2689.4 GB-T 1981 壽命
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