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反射率

  • 高速PCB設(shè)計(jì)中的反射研究

      在高速數(shù)字電路飛速發(fā)展的今天,信號(hào)的頻率不斷提高, 信號(hào)完整性設(shè)計(jì)在P C B設(shè)計(jì)中顯得日益重要。其中由于傳輸線效應(yīng)所引起的信號(hào)反射問(wèn)題是信號(hào)完整性的一個(gè)重要方面。本文研究分析了高速PCB 設(shè)計(jì)中的反射問(wèn)題的產(chǎn)生原因,并利用HyperLynx 軟件進(jìn)行了仿真,最后提出了相應(yīng)的解決方法。

    標(biāo)簽: PCB 反射

    上傳時(shí)間: 2013-10-16

    上傳用戶(hù):2728460838

  • 多路輸出開(kāi)關(guān)電源交叉調(diào)整率

    多路輸出開(kāi)關(guān)電源交叉調(diào)整率

    標(biāo)簽: 多路輸出 交叉調(diào)整率 開(kāi)關(guān)電源

    上傳時(shí)間: 2013-10-31

    上傳用戶(hù):15070202241

  • 一種新的基于瞳孔--角膜反射技術(shù)的視線追蹤方法

    摘 要 針對(duì)現(xiàn)有單相機(jī)單光源視線追蹤系統(tǒng)存在的幾個(gè)問(wèn)題:精度不高、頭動(dòng)受限以及標(biāo)定復(fù)雜,提出了一種新的基于瞳孔?角膜反射(PCCR)技術(shù)的視線追蹤方法.通過(guò)提出的瞳孔邊緣濾波算法(RDPEF)和三通道偽彩色圖(TCPCM)解決了近紅外條件下瞳孔定位誤差較大、瞳孔跟蹤魯棒性較差的問(wèn)題,進(jìn)而提高了視線特征提取的精度.通過(guò)提出的頭部位置補(bǔ)償方法以及個(gè)體差異轉(zhuǎn)化模型,使二維映射模型允許使用者頭部運(yùn)動(dòng)并且只需要單點(diǎn)標(biāo)定.該方法提高了單相機(jī)視線追蹤的精度和應(yīng)用范圍,為面向人機(jī)交互的視線追蹤系統(tǒng)提供了有效的低成本解決方案.關(guān)鍵詞 視線追蹤;瞳孔定位;瞳孔跟蹤;視線估計(jì);瞳孔?角膜反射(PCCR)技術(shù)

    標(biāo)簽: 角膜反射 視線追蹤

    上傳時(shí)間: 2013-10-21

    上傳用戶(hù):超凡大師

  • 單片機(jī)系統(tǒng)中的率表算法

    單片機(jī)系統(tǒng)中的率表算法:近年來(lái),國(guó)內(nèi)許多單位用MOTOROLA 68HC05C8A,68HC05C9A,68HC05L5,68HC05L16等單片機(jī)開(kāi)發(fā)復(fù)費(fèi)率表電表。電力部門(mén)也在為開(kāi)發(fā)中的復(fù)費(fèi)率電表制定一些規(guī)范。復(fù)費(fèi)率電表中有一項(xiàng)功能要求,能給出所謂最大需置。

    標(biāo)簽: 單片機(jī)系統(tǒng) 算法

    上傳時(shí)間: 2013-11-06

    上傳用戶(hù):jackgao

  • PCB可測(cè)性設(shè)計(jì)布線規(guī)則之建議―從源頭改善可測(cè)率

    P C B 可測(cè)性設(shè)計(jì)布線規(guī)則之建議― ― 從源頭改善可測(cè)率PCB 設(shè)計(jì)除需考慮功能性與安全性等要求外,亦需考慮可生產(chǎn)與可測(cè)試。這里提供可測(cè)性設(shè)計(jì)建議供設(shè)計(jì)布線工程師參考。1. 每一個(gè)銅箔電路支點(diǎn),至少需要一個(gè)可測(cè)試點(diǎn)。如無(wú)對(duì)應(yīng)的測(cè)試點(diǎn),將可導(dǎo)致與之相關(guān)的開(kāi)短路不可檢出,并且與之相連的零件會(huì)因無(wú)測(cè)試點(diǎn)而不可測(cè)。2. 雙面治具會(huì)增加制作成本,且上針板的測(cè)試針定位準(zhǔn)確度差。所以Layout 時(shí)應(yīng)通過(guò)Via Hole 盡可能將測(cè)試點(diǎn)放置于同一面。這樣就只要做單面治具即可。3. 測(cè)試選點(diǎn)優(yōu)先級(jí):A.測(cè)墊(Test Pad) B.通孔(Through Hole) C.零件腳(Component Lead) D.貫穿孔(Via Hole)(未Mask)。而對(duì)于零件腳,應(yīng)以AI 零件腳及其它較細(xì)較短腳為優(yōu)先,較粗或較長(zhǎng)的引腳接觸性誤判多。4. PCB 厚度至少要62mil(1.35mm),厚度少于此值之PCB 容易板彎變形,影響測(cè)點(diǎn)精準(zhǔn)度,制作治具需特殊處理。5. 避免將測(cè)點(diǎn)置于SMT 之PAD 上,因SMT 零件會(huì)偏移,故不可靠,且易傷及零件。6. 避免使用過(guò)長(zhǎng)零件腳(>170mil(4.3mm))或過(guò)大的孔(直徑>1.5mm)為測(cè)點(diǎn)。7. 對(duì)于電池(Battery)最好預(yù)留Jumper,在ICT 測(cè)試時(shí)能有效隔離電池的影響。8. 定位孔要求:(a) 定位孔(Tooling Hole)直徑最好為125mil(3.175mm)及其以上。(b) 每一片PCB 須有2 個(gè)定位孔和一個(gè)防呆孔(也可說(shuō)成定位孔,用以預(yù)防將PCB反放而導(dǎo)致機(jī)器壓破板),且孔內(nèi)不能沾錫。(c) 選擇以對(duì)角線,距離最遠(yuǎn)之2 孔為定位孔。(d) 各定位孔(含防呆孔)不應(yīng)設(shè)計(jì)成中心對(duì)稱(chēng),即PCB 旋轉(zhuǎn)180 度角后仍能放入PCB,這樣,作業(yè)員易于反放而致機(jī)器壓破板)9. 測(cè)試點(diǎn)要求:(e) 兩測(cè)點(diǎn)或測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于50mil(1.27mm),否則有一測(cè)點(diǎn)無(wú)法植針。以大于100mil(2.54mm)為佳,其次是75mil(1.905mm)。(f) 測(cè)點(diǎn)應(yīng)離其附近零件(位于同一面者)至少100mil,如為高于3mm 零件,則應(yīng)至少間距120mil,方便治具制作。(g) 測(cè)點(diǎn)應(yīng)平均分布于PCB 表面,避免局部密度過(guò)高,影響治具測(cè)試時(shí)測(cè)試針壓力平衡。(h) 測(cè)點(diǎn)直徑最好能不小于35mil(0.9mm),如在上針板,則最好不小于40mil(1.00mm),圓形、正方形均可。小于0.030”(30mil)之測(cè)點(diǎn)需額外加工,以導(dǎo)正目標(biāo)。(i) 測(cè)點(diǎn)的Pad 及Via 不應(yīng)有防焊漆(Solder Mask)。(j) 測(cè)點(diǎn)應(yīng)離板邊或折邊至少100mil。(k) 錫點(diǎn)被實(shí)踐證實(shí)是最好的測(cè)試探針接觸點(diǎn)。因?yàn)殄a的氧化物較輕且容易刺穿。以錫點(diǎn)作測(cè)試點(diǎn),因接觸不良導(dǎo)致誤判的機(jī)會(huì)極少且可延長(zhǎng)探針使用壽命。錫點(diǎn)尤其以PCB 光板制作時(shí)的噴錫點(diǎn)最佳。PCB 裸銅測(cè)點(diǎn),高溫后已氧化,且其硬度高,所以探針接觸電阻變化而致測(cè)試誤判率很高。如果裸銅測(cè)點(diǎn)在SMT 時(shí)加上錫膏再經(jīng)回流焊固化為錫點(diǎn),雖可大幅改善,但因助焊劑或吃錫不完全的緣故,仍會(huì)出現(xiàn)較多的接觸誤判。

    標(biāo)簽: PCB 可測(cè)性設(shè)計(jì) 布線規(guī)則

    上傳時(shí)間: 2014-01-14

    上傳用戶(hù):cylnpy

  • 基于FPGA實(shí)現(xiàn)固定倍率的圖像縮放

    基于FPGA硬件實(shí)現(xiàn)固定倍率的圖像縮放,將2維卷積運(yùn)算分解成2次1維卷積運(yùn)算,對(duì)輸入原始圖像像素先進(jìn)行行方向的卷積,再進(jìn)行列方向的卷積,從而得到輸出圖像像素。把圖像縮放過(guò)程設(shè)計(jì)為一個(gè)單元體的循環(huán)過(guò)程,在單元體內(nèi)部,事先計(jì)算出卷積系數(shù)。

    標(biāo)簽: FPGA 倍率 圖像

    上傳時(shí)間: 2013-12-03

    上傳用戶(hù):fudong911

  • 采用高速串行收發(fā)器Rocket I/O實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)率為2.5 G

    摘要: 串行傳輸技術(shù)具有更高的傳輸速率和更低的設(shè)計(jì)成本, 已成為業(yè)界首選, 被廣泛應(yīng)用于高速通信領(lǐng)域。提出了一種新的高速串行傳輸接口的設(shè)計(jì)方案, 改進(jìn)了Aurora 協(xié)議數(shù)據(jù)幀格式定義的弊端, 并采用高速串行收發(fā)器Rocket I/O, 實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)率為2.5 Gbps的高速串行傳輸。關(guān)鍵詞: 高速串行傳輸; Rocket I/O; Aurora 協(xié)議 為促使FPGA 芯片與串行傳輸技術(shù)更好地結(jié)合以滿(mǎn)足市場(chǎng)需求, Xilinx 公司適時(shí)推出了內(nèi)嵌高速串行收發(fā)器RocketI/O 的Virtex II Pro 系列FPGA 和可升級(jí)的小型鏈路層協(xié)議———Aurora 協(xié)議。Rocket I/O支持從622 Mbps 至3.125 Gbps的全雙工傳輸速率, 還具有8 B/10 B 編解碼、時(shí)鐘生成及恢復(fù)等功能, 可以理想地適用于芯片之間或背板的高速串行數(shù)據(jù)傳輸。Aurora 協(xié)議是為專(zhuān)有上層協(xié)議或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的上層協(xié)議提供透明接口的第一款串行互連協(xié)議, 可用于高速線性通路之間的點(diǎn)到點(diǎn)串行數(shù)據(jù)傳輸, 同時(shí)其可擴(kuò)展的帶寬, 為系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員提供了所需要的靈活性[4]。但該協(xié)議幀格式的定義存在弊端,會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)資源的浪費(fèi)。本文提出的設(shè)計(jì)方案可以改進(jìn)Aurora 協(xié)議的固有缺陷,提高系統(tǒng)性能, 實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)率為2.5 Gbps 的高速串行傳輸, 具有良好的可行性和廣闊的應(yīng)用前景。

    標(biāo)簽: Rocket 2.5 高速串行 收發(fā)器

    上傳時(shí)間: 2013-11-06

    上傳用戶(hù):smallfish

  • 基于反射內(nèi)存網(wǎng)絡(luò)的數(shù)據(jù)組播機(jī)制研究

    基于以太網(wǎng)的組播速率較低,無(wú)法滿(mǎn)足實(shí)時(shí)系統(tǒng),且無(wú)擁塞控制機(jī)制,易出現(xiàn)丟包、亂序等現(xiàn)象;同時(shí),基于以太網(wǎng)組播的應(yīng)用程序不能直接移植到反射內(nèi)存網(wǎng)。針對(duì)上述問(wèn)題,提出了一種基于反射內(nèi)存網(wǎng)的組播實(shí)現(xiàn)方案,將組播技術(shù)與反射內(nèi)存網(wǎng)技術(shù)相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了參與組播的各節(jié)點(diǎn)間的高速通信。該方案的實(shí)現(xiàn),不僅提高了節(jié)點(diǎn)間的通信的可靠性,還提高了基于以太網(wǎng)組播的應(yīng)用程序的可移植性。

    標(biāo)簽: 反射 內(nèi)存 網(wǎng)絡(luò) 數(shù)據(jù)組播

    上傳時(shí)間: 2013-10-10

    上傳用戶(hù):skfreeman

  • 光時(shí)域反射儀AQ7275

    光時(shí)域反射儀AQ7275基本操作界面介紹。

    標(biāo)簽: 7275 AQ 光時(shí)域反射儀

    上傳時(shí)間: 2014-01-24

    上傳用戶(hù):hebmuljb

  • 反射式紅外線感應(yīng)電路原理及應(yīng)用

    反射式紅外線感應(yīng)電路原理及應(yīng)用

    標(biāo)簽: 反射式 紅外線感 電路原理

    上傳時(shí)間: 2013-11-16

    上傳用戶(hù):inwins

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