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內(nèi)核微控制器

  • 基于DSP的電動機控制與檢測

    · 摘要:  目的:提出一種新的電動機功率控制方法,實現對醫學設備的電動機功率精準控制.方法:通過對DSP微控制器TMS320LF240x的研究,提出了一種基于PWM調制電路的功率控制方法.結果:測試結果完全滿足系統的設計要求.結論:該系統結構簡單,可編程性好,可以在不同的應用場合采用不同的控制算法,而不需要改變外圍的電路,易于升級及滿足一些特殊場合的要求.  

    標簽: DSP 電動機 控制 檢測

    上傳時間: 2013-06-28

    上傳用戶:yangzhiwei

  • 嵌入式C編程與ATmelAVR

    ·作者:Larry OCull Richard Barnett Sara  出版社:清華大學出版社圖書簡介:歡迎進入嵌入式編程和微控制器應用的世界!使用日益流行且價格適宜的Atmel AVR嵌入式控制器作為學習平臺。本書是目前可以獲得的最佳書籍之一。對于初學者,本書將會是極好的選擇。隨著對Atmel AVR RISC處理器的介紹,讀者會立即進入嵌入式C語言教程之中。在本書中,讀者將學習C語言的變量和

    標簽: ATmelAVR 嵌入式C 編程

    上傳時間: 2013-05-22

    上傳用戶:huazi

  • The 8051 Microcontroller and Embedded Systems Using Assembly 

    ·【作  者】Ayala, Kenneth J. [同作者作品]  【出 版 社】 Thomson Learning     【書 號】 140186158X  【出版日期】 2005 年7月 【頁 碼】 412  本書全面論述8051系列的微控制器的內部結構、指令系統、尋址方式、存儲分配以及與各種實際外圍器件的接口技術

    標簽: nbsp Microcontroller Embedded Assembly

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:zhengzg

  • 《計算機和測控系統總線手冊》

    ·目錄計算機測控系統設計與應用出版說明前言第1章 計算機測控系統概論1.1 計算機測控系統的發展過程1.2 微處理器與微控制器技術1.3 數字信號處理器DSP技術1.4 計算機測控系統的發展習題第2章 微處理器與微控制器總線配置2.1 INTEL8088CPU三總線的配置2.2 MCS-51系列及其兼容單片微控制器2.3 MCS-96 系列單片微控制器三總線的配置2.4 總線結構 習題第3章 譯碼與

    標簽: 計算機 測控系統 總線

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:Neoemily

  • 利用比較器實現MSP430欠壓監控

    2005年全國單片機與嵌入式系統學術交流會論文,利用模擬比較器實現MSP430系統的欠壓監控,介紹了利用MSP430系列微控制器自身所集成的模擬比較器ComparatorA設計的電源電壓欠壓檢測和保護電路,給出了程序的流程圖。

    標簽: MSP 430 比較器 欠壓

    上傳時間: 2013-06-15

    上傳用戶:luyanping

  • STM8中文手冊

    STM8中文手冊,本參考手冊為應用開發人員提供了關于如何使用STM8S微控制器的存儲器和外設的完整信息。

    標簽: STM8

    上傳時間: 2013-06-13

    上傳用戶:aa17807091

  • 該項目在Keil下工作和在PROTEUS測試成功

    該項目在Keil下工作和在PROTEUS測試成功。時鐘是用微控制器和3個 2x7段LED 。

    標簽: PROTEUS Keil 項目 測試成功

    上傳時間: 2013-09-25

    上傳用戶:dave520l

  • 利用精密模擬微控制器ADuC7024和數字加速度計ADXL345檢測低g加速度

    ADXL345是一款小巧纖薄的低功耗三軸加速度計,可以對高達±16 g的加速度進行高分辨率(13位)測量。數字輸出數據為16位二進制補碼格式,可通過SPI(3線或4線)或者I2C數字接口訪問。

    標簽: ADuC 7024 ADXL 345

    上傳時間: 2014-12-23

    上傳用戶:Andy123456

  • 絕對輸出iMEMS陀螺儀與比率ADC的配合使用

    iMEMS陀螺儀常常與許多集成在微控制器中的低成本比率ADC配合使用。本應用筆記將簡要介紹如何實現陀螺儀的絕對(不隨電源電壓變化而變化)輸出與比率ADC的連接。  

    標簽: iMEMS ADC 輸出 比率

    上傳時間: 2013-10-20

    上傳用戶:ywcftc277

  • 校準ADC內部偏移的光學微控制器DS4830

    Abstract: The DS4830 optical microcontroller's analog-to-digital converter (ADC) offset can change with temperature and gainselection. However, the DS4830 allows users to measure the ADC internal offset. The measured ADC offset is added to the ADCoffset register to nullify the offset error. This application note demonstrates the DS4830's ADC internal offset calibration in theapplication program.  

    標簽: 4830 ADC DS 校準

    上傳時間: 2014-12-23

    上傳用戶:萍水相逢

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