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  • STM32F10xxx閃存編程參考手冊

    STM32F10xxx閃存編程參考手冊

    標簽: STM 32F F10 xxx

    上傳時間: 2013-11-06

    上傳用戶:zhaoke2005

  • 嵌入式系統中基于閃存平臺的存儲管理策略

    開發了一個基于閃存平臺的嵌入式文件系統。為保證閃存扇區的平均使用率和均衡擦寫次數,引入了損壞管理策略,在這種策略中采用了動態存儲空間管理模式和先入先出(FIFO)策略。所采用的冗余設計、快速計算和跟蹤策略還可以延長核心扇區使用壽命,保證系統啟動可靠的服務。

    標簽: 嵌入式系統 存儲管理 閃存 策略

    上傳時間: 2014-12-30

    上傳用戶:lingzhichao

  • NI Multisim 12 & NI Ultiboard 12

    NI Multisim 電子電路設計和仿真軟件 NI Ultiboard PCB板設計軟件 組成電子電路設計的套件

    標簽: Ultiboard Multisim NI 12

    上傳時間: 2014-01-04

    上傳用戶:fklinran

  • NI電路設計套件快速入門+

    NI電路設計套件快速入門

    標簽: 電路設計 套件 快速入門

    上傳時間: 2013-11-16

    上傳用戶:gai928943

  • NI Multisim和NI Ultiboard評估軟件(專業版)

    Multisim可用于原理圖輸入、SPICE仿真、和電路設計,無需SPICE專業知識,即可通過仿真來減少設計流程前期的原型反復。Multisim可識別錯誤、驗證設計,以及更快地原型。此外,Multisim原理圖可無縫轉換到NI Ultiboard中完成PCB設計。評估版軟件不能打印圖表以及導出最終Gerber文件。更多信息請訪問ni.com/multisim/zhs/。

    標簽: Ultiboard Multisim NI 評估軟件

    上傳時間: 2013-10-29

    上傳用戶:micheal158235

  • NI Multisim 12 & NI Ultiboard 12

    NI Multisim 電子電路設計和仿真軟件 NI Ultiboard PCB板設計軟件 組成電子電路設計的套件

    標簽: Ultiboard Multisim NI 12

    上傳時間: 2013-10-12

    上傳用戶:ruixue198909

  • NI電路設計套件快速入門+

    NI電路設計套件快速入門

    標簽: 電路設計 套件 快速入門

    上傳時間: 2014-12-31

    上傳用戶:dongbaobao

  • pcb layout design(臺灣硬件工程師15年經驗

    PCB LAYOUT 術語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設計之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:單、雙層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時所使用之PAD,一般稱為散熱孔或導通孔。11. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應相同。12. Moat : 不同信號的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時的走線格點2. Test Point : ATE 測試點供工廠ICT 測試治具使用ICT 測試點 LAYOUT 注意事項:PCB 的每條TRACE 都要有一個作為測試用之TEST PAD(測試點),其原則如下:1. 一般測試點大小均為30-35mil,元件分布較密時,測試點最小可至30mil.測試點與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測試點與測試點間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時可使用50mil,3. 測試點必須均勻分佈於PCB 上,避免測試時造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測試點留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測試點必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測率7. 測試點設置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:cjf0304

  • IC封裝製程簡介(IC封裝制程簡介)

    半導體的產品很多,應用的場合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導體元件外型。半導體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內部的晶片,圖三是以顯微鏡將內部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當引發過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發光二極體,其內部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負極的腳上,經由銲線連接正極的腳。當LED通過正向電流時,晶片會發光而使LED發亮,如圖六所示。     半導體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產品,稱為IC封裝製程,又可細分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節中將簡介這兩段的製造程序。

    標簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時間: 2013-11-04

    上傳用戶:372825274

  • 價值5k的labview數據采集NI官方資料免費下載

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    標簽: labview 價值 數據采集 免費下載

    上傳時間: 2013-10-27

    上傳用戶:kachleen

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