文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結(jié)合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調(diào)試原理。
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