ARM綜合板子分時(shí)電度器計(jì)算電價(jià)，用電時(shí)數(shù)，分時(shí)用電時(shí)數(shù)，在不同寄存器中存儲(chǔ)。
上傳時(shí)間： 2015-12-02
上傳用戶：stella2015
小弟撰寫的類神經(jīng)pca對(duì)圖片的壓縮與解壓縮,對(duì)來(lái)源圖片training過後,可使用該張圖像的特性(eigenvalue和eigenvetex)來(lái)對(duì)別張圖解壓縮,非常有趣的方式,再設(shè)定threashold時(shí)注意時(shí)值不要過大,因?yàn)檫@牽涉inverse matrex的計(jì)算.
標(biāo)簽： eigenvalue eigenvetex threashol training
上傳時(shí)間： 2015-12-02
上傳用戶：wpwpwlxwlx
用bcb所撰寫的kohonen程式,優(yōu)雅的網(wǎng)狀伸張分佈,將任意維度的input data,reduce至二維x,y平面,competivite learning的最佳範(fàn)例.
標(biāo)簽： competivite learning kohonen reduce
上傳時(shí)間： 2015-12-02
上傳用戶：腳趾頭
用C語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)溫度讀數(shù)攝氏度與華氏度之間的轉(zhuǎn)換
標(biāo)簽： C語(yǔ)言 溫度 攝氏 轉(zhuǎn)換
上傳時(shí)間： 2015-12-04
上傳用戶：sqq
圓度誤差檢測(cè)的現(xiàn)狀與展望.介紹了圓度誤差檢測(cè)儀器的概況,以及近10年內(nèi)的圓度誤差接觸和非接觸檢測(cè)方法的原理及特點(diǎn)。并展望了圓度誤差檢測(cè)的發(fā)展趨勢(shì).
標(biāo)簽： 誤差 檢測(cè) 發(fā)展趨勢(shì) 檢測(cè)儀器
上傳時(shí)間： 2015-12-06
上傳用戶：hongmo
PIC KS0108 圖型液晶驅(qū)動(dòng)C源碼，編譯器為PICC18
上傳時(shí)間： 2014-01-18
上傳用戶：xzt
對(duì)人臉通過灰度進(jìn)行識(shí)別,是二維人臉中經(jīng)常應(yīng)用的識(shí)別方法
上傳時(shí)間： 2013-12-12
上傳用戶：cc1
256級(jí)灰度LED點(diǎn)陣屏顯示原理及基于FPGA的電路設(shè)計(jì)
上傳時(shí)間： 2015-12-12
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1、設(shè)定控制溫度為0—99度之間的任意數(shù)，并自動(dòng)存儲(chǔ)。 2、利用AD590K的±0.1度的重復(fù)性，采用分段插值程序?qū)D590K的信號(hào)進(jìn)行非線性補(bǔ)償，以獲得±0.1度的測(cè)量精度。
上傳時(shí)間： 2014-01-21
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精選一個(gè) uC/OS-II Porting 於一般業(yè)界使用之 MSP430F1132 開發(fā)板上任務(wù)調(diào)度的例程,於 app.c 內(nèi)建構(gòu)了一個(gè)可於此開發(fā)板上 Port 1.0 驅(qū)動(dòng) LED 閃爍任務(wù)工程,全例程於 IAR MSP430 V3.42A 下編譯,同時(shí)亦將此工程設(shè)好斷點(diǎn)可方便於 Simulator 內(nèi)直接觀測(cè) uC/OS 任務(wù)調(diào)度狀態(tài).
標(biāo)簽： Porting OS-II F1132 1132
上傳時(shí)間： 2015-12-14
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