具備處理外部模擬信號功能是很多電子設(shè)備的基本要求。為了將模擬信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信 號,就需要藉助A/D 轉(zhuǎn)換器。將A/D 功能和MCU 整合在一起,就可減少電路的元件數(shù)量和 電路板的空間使用。 HT45F23 微控制器內(nèi)建6 通道,12 位解析度的A/D 轉(zhuǎn)換器。在本應(yīng)用說明中,將介紹如何 使用HT45F23 微控制器的A/D 功能。
標(biāo)簽: 45F F23 ADC HT
上傳時間: 2013-10-27
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數(shù)字圖像水印技術(shù),是將代表著作權(quán)人身份的特定信息(即數(shù)字水印),按照某種方式植 入電子出版物中,在產(chǎn)生版權(quán)糾紛時,通過相應(yīng)的算法提取出該數(shù)字水印,從而驗證版權(quán)的 歸屬,
標(biāo)簽: 水印
上傳時間: 2013-12-13
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《C++ 程式語言經(jīng)典本》,The C++ Programming Language, 3rd edition 中譯本的序、 第一章、 第二章、 第三章、 附錄B的電子檔 此處採用的是由華康科技 所開發(fā)的 DynaDoc 格式。 內(nèi)附DynaDoc 閱覽器
標(biāo)簽: 程式
上傳時間: 2014-12-06
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標(biāo)簽: ABBYY FineReader 8.0 OCR
上傳時間: 2016-02-11
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電子電路零件應(yīng)用手冊
標(biāo)簽: 電子電路
上傳時間: 2021-12-14
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近年來,對器件的失效分析已經(jīng)成為電力電子領(lǐng)域中一個研究熱點。本論文基于現(xiàn)代電力電子裝置中應(yīng)用最廣的IGBT器件,利用靜態(tài)測試儀3716,SEM(Scanning Electrom Microscope,掃描電子顯微鏡)、EDX(Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy、能量色散x射線光譜儀)、FIB(Focused lon beam,聚焦高子束)切割、TEM(Thermal Emmision Microscope,高精度熱成像分析儀)等多種分析手段對模塊應(yīng)用當(dāng)中失效的1GBT芯片進(jìn)行電特性分析、芯片解剖并完成失效分析,并基于相應(yīng)的失效模式提出了封裝改進(jìn)方案。1,對于柵極失效的情況,本論文先經(jīng)過電特性測試完成預(yù)分析,并利用THEMOS分析出柵極漏電流通路,找到最小點并進(jìn)行失效原因分析,針對相應(yīng)原因提出改進(jìn)方案。2,針對開通與關(guān)斷瞬態(tài)過電流失效,采用研磨、劃片等手段進(jìn)行芯片的解剖。并用SEM與EDX對芯片損傷程度進(jìn)行評估分析,以文獻(xiàn)為參考進(jìn)行失效原因分析,利用saber仿真進(jìn)行失效原因驗證。3,針對通態(tài)過電流失效模式,采用解剖分析來評估損傷情況,探究失效原因,并采用電感鉗位電路進(jìn)行實驗驗證。4,針對過電壓失效模式,采用芯片解剖方式來分析失效點以及失效情況,基于文獻(xiàn)歸納并總結(jié)出傳統(tǒng)失效原因,并通過大量實驗得出基于封裝的失效原因,最后采用saber仿真加以驗證。
標(biāo)簽: igbt
上傳時間: 2022-06-21
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DATA SHEET_OTA7290B_V07_敦泰電子(上海),關(guān)于大屏顯示驅(qū)動芯片應(yīng)用官方規(guī)格書資料
標(biāo)簽: 顯示驅(qū)動芯片 ota7290b
上傳時間: 2022-07-18
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SMT(Surface mount technology)是可在“板面上”滿及焊牢棲多敷“表面黏裝零件的電子裝配技術(shù).侵貼:1.可在板上雨成同特焊接,封裝密度提高50~70%.WW2.l短,提高博輸速度3.可使用更高刪敷.4.自勤化,快速,成本低.1.表面貼裝零件SOIC(small outline integrate circle)RESISTANCE(電阻)CAPACITANCE(電容)AMPLCC(plastic leaded chip carriers)CONNECT etc.(結(jié)器)封裝材料1.)陶瓷(BeO):精度高,密封度高(CTE:5~7PPM/℃)封板子熟膨服要求高2.)聚硫胺醚(Polyetherimide):一可用玻璃逛行封合的耐高溫熟塑性塑廖,機械,電子性能侵良AwIR各波皆敏感,易分解,生“酸泡”現(xiàn)象.3.)熔融矽砂(Fused silica),暖氧橫脂
標(biāo)簽: fpc
上傳時間: 2022-07-27
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USB子類協(xié)議.part2
標(biāo)簽: part USB 協(xié)議
上傳時間: 2013-05-22
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USB子類協(xié)議.part3
上傳時間: 2013-08-03
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