紅外線測溫儀由于長期用于生產一線進行現場測試,使用環境惡劣,以及日常維護保養不當,可能導致檢定有效期內的紅外線測溫儀不能準確測量甚至設備故障,導致測量失準,影響電網安全穩定運行。根據紅外測溫原理研究了運行中的紅外線測溫儀自校準方法,使用者可用簡易自制設備隨時對紅外線測溫儀進行定性測試分析,方法簡單易行。確保紅外線測溫儀處于良好工作狀態,準確測量,減少安全隱患。
標簽: 紅外線測溫儀 法的研究 自校準 誤差
上傳時間: 2013-11-11
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為了設計一種實時高效、穩定可靠的圖像目標跟蹤系統平臺,避免因圖像邊緣提取效果差而引起跟蹤失敗,采用自適應Canny邊緣檢測算法。該自適應算法能夠很好的確定平滑參數以及高、低兩個閾值,更好的獲得圖像邊緣圖。經Canny算法處理圖像目標后,獲得目標的單像素邊緣圖,根據邊緣圖計算得到目標質心。利用最小二乘法擬合出目標的運動軌跡,同時可根據時間間隔預測出目標質心的下一位置,控制伺服機構,實現目標跟蹤。實驗表明,采用Canny算法的目標跟蹤系統,能夠滿足實時跟蹤的需要。
標簽: Canny 檢測算法 目標跟蹤
上傳時間: 2013-11-03
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自蔓延高溫合成技術是利用原料在初始點燃條件下化學反應所產生的高溫高熱,使燃燒反應自發地進行,從而得到新的成分和結構的產物。通過對自蔓延高溫合成實驗壓力和燃燒速率測試方法的研究,根據實驗的要求,選擇合適的壓力傳感器,并自行設計有效的燃燒速率測試系統,合理選擇監測點,編制滿足測試需求的數據采集及控制程序,獲取大量有效實驗數據,為測定自蔓延燃燒過程中的壓力和速率變化曲線,進行反應熱力學、動力學分析,對反應安全進行評估,提供有力的數據支持,并對相關研究具有重要的借鑒意義。
標簽: 高溫合成 速率 測試方法
上傳時間: 2013-11-16
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小波變換在電力系統諧波中的應用,與諧波本身的特性是直接相關的,要得到實時性和精確性都較高的檢測效果就需要對電力系統的諧波特點,小波在這方面的應用原理有深刻的理解。文中對此在作了深入分析的基礎上,還重點研究了采用小波變換研究諧波檢測的主要因素,用仿真驗證其影響效果。最后針對目前的研究成果論述小波在諧波檢測應用中的發展,為小波變換在分析有效、精確、可靠的電力諧波檢測方法提供研究思路。
標簽: 小波變換 電力系統 諧波檢測
上傳時間: 2013-11-21
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提出了一種基于9/7小波的二維小波變換器的硬件設計方案.通過優化算法以及采用行列變換并行處理的方式,提高了變換器的數據吞吐量.該方案采用了流水線技術,較大地提高了硬件效率.綜合結果表明,該方案的系統時鐘可達到110 MHz,且具有高速、高吞吐量、片內存儲器小等優點.
標簽: JPEG 2000 VLSI 二維小波變換
上傳時間: 2015-01-03
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基于Labview小游戲合集11款
標簽: Labview 小游戲
上傳時間: 2013-10-29
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TLP265J,TLP266J是東芝新推出的2款4pin SO6封裝的雙向可控硅輸出光耦,它們的耐壓能力能達到600V,它旨在取代以前采用4pin MFSOP6封裝的TLP260J和TLP261J,因為MFSOP6封裝的爬電距離較小,使其的隔離電壓只能達到BVS=3000 Vrms ,這使得東芝的這系列產品在與競爭對手的產品對比中處于劣勢,因為目前SOP封裝的光耦隔離電壓普遍能達到BVS=3750 Vrms 。而東芝新推出的TLP265J,TLP266J也能達到這個隔離能力。
標簽: TLP 265J 266J 265
上傳時間: 2013-10-22
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小封裝四通道交流光耦電路應用及功能介紹
標簽: TLP PS 2705 2805
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串行NOR Flash是用串口進行連續數據存取的小尺寸、低功耗Flash存儲器;相對于并行Flash,它用更少的引腳傳送數據,這降低了系統空間、功耗、成本。它內部的地址空間是線性的,隨機訪問速度快;它的傳輸效率高,在1~ 4MB的小容量時具有很高的性價比。更重要的是,串行NOR Flash的讀寫操作十分簡單。這些優勢使得串行NOR Flash被廣泛地用于微型、低功耗的數據存儲系統。串行NOR Flash 可通過SPI進行操作。用戶根據NOR Flash芯片自定義的協議,通過SPI發送命令到芯片,并接收NOR Flash芯片返回的狀態信息和數據信息。此外,用戶在使用串行NOR Flash時需要注意其支持哪些類型的SPI操作方式。
標簽: TinyM0 Flash NOR 教程
上傳時間: 2013-11-08
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ARM通訊 H-JTAG 是一款簡單易用的的調試代理軟件,功能和流行的MULTI-ICE 類似。H-JTAG 包括兩個工具軟件:H-JTAG SERVER 和H-FLASHER。其中,H-JTAG SERVER 實現調試代理的功能,而H-FLASHER則實現了FLASH 燒寫的功能。H-JTAG 的基本結構如下圖1-1所示。 H-JTAG支持所有基于ARM7 和ARM9的芯片的調試,并且支持大多數主流的ARM調試軟件,如ADS、RVDS、IAR 和KEIL。通過靈活的接口配置,H-JTAG 可以支持WIGGLER,SDT-JTAG 和用戶自定義的各種JTAG 調試小板。同時,附帶的H-FLASHER 燒寫軟件還支持常用片內片外FLASH 的燒寫。使用H-JTAG,用戶能夠方便的搭建一個簡單易用的ARM 調試開發平臺。H-JTAG 的功能和特定總結如下: 1. 支持 RDI 1.5.0 以及 1.5.1; 2. 支持所有ARM7 以及 ARM9 芯片; 3. 支持 THUMB 以及ARM 指令; 4. 支持 LITTLE-ENDIAN 以及 BIG-ENDIAN; 5. 支持 SEMIHOSTING; 6. 支持 WIGGLER, SDT-JTAG和用戶自定義JTAG調試板; 7. 支持 WINDOWS 9.X/NT/2000/XP; 8.支持常用FLASH 芯片的編程燒寫; 9. 支持LPC2000 和AT91SAM 片內FLASH 的自動下載;
標簽: H-JTAG 調試軟件
上傳時間: 2013-11-19
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