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線性判別分析

  • 本文在分析計算機(網絡)考試的發展及現有模式的基礎上

    本文在分析計算機(網絡)考試的發展及現有模式的基礎上,結合計算機網絡技術的發展和素質教育的要求,提出了計算機網絡自適應考試的模式,并在技術實現上進行了詳細的分析.本系統是在Windows XP下,以IIS5.1(Internet Information Server)網絡信息服務為應用服務器,選擇ASP.NET(C#)、SQL Server 2000開發在線考試系統,采用WEB技術實現,WEB技術超越了傳統的“客戶機/服務器”的兩層結構,采用的是三層體系(B/S)結構:用戶端/服務器端/數據庫,因此WEB結構有著更好的安全性,在用戶機上不需要安裝任何應用程序;本系統可以隨機生成試卷,同時保證試卷的整體水平一致的前提下,每套試卷的題目不完全相同,即使對于同一個試題而言,試題答案的顯示順序也是不相同的。同時該系統避免了傳統在線考試效率低,可維護性不高的缺點。

    標簽: 計算機 網絡 發展

    上傳時間: 2014-01-14

    上傳用戶:zsjinju

  • 控制系統穩定性分析

    控制系統穩定性分析,穩態誤差分析的matlab實現方法,分析系統能控能觀性的實現方法

    標簽: 控制系統 穩定性分析

    上傳時間: 2017-08-20

    上傳用戶:gaojiao1999

  • 2、 聲明測試類TestStudent完成對多態性的測試:(1)在主方法中聲明Student類的數組(含五個元素)。(2)生成五個對象存入數組

    2、 聲明測試類TestStudent完成對多態性的測試:(1)在主方法中聲明Student類的數組(含五個元素)。(2)生成五個對象存入數組,其中三個Student類的對象、一個StudentXW類的對象、一個StudentBZ類的對象。(3)將方法testScore()發送給數組的每一個元素,輸出結果,并分析具體執行的是哪一個類中的方法。

    標簽: TestStudent Student 測試 數組

    上傳時間: 2017-09-12

    上傳用戶:netwolf

  • 遺傳算法的收斂性研究

    遺傳算法的收斂性分析是算法研究中的主要問題

    標簽: 算法 收斂性

    上傳時間: 2016-04-26

    上傳用戶:littlefy

  • GIS-用地適宜性評價

    本文在分析 CAD 文件格式與 GIS 所需建模源文件之間差異性的基礎上,介紹了數據的自動轉 換獲取方法,說明了 GIS 用于城市用地適宜性評價的具體操作流程,并對 GIS 在城市規劃其他方面的應用 進行了展望。

    標簽: GIS

    上傳時間: 2020-04-13

    上傳用戶:小婷婷婷

  • 走向數學叢書 凸性 [史樹中 著] 2011年版

    “走向數學”小叢書,每本小冊子盡量用深入淺出的語言來講述數學的某一問題或方面,使工程技術人員、非數學專業的大學生,甚至具有中學數學水平的人,亦能懂得書中全部或部分含義與內容。這對提高我國人民的數學修養與水平,可能會起些作用。史樹中所著的《凸性》主要介紹了凸集定義、凸集承托定理及其解析證明、凸函數的定義、凸性不等式、凸函數的導數性質、凸函數的次微分和共軛函數、凸分析的兩條基本定理及凸規劃等。

    標簽: 凸性

    上傳時間: 2021-11-03

    上傳用戶:nhhrzh

  • cadence-allegro16.6高級教程

    主要內容介紹 Allegro 如何載入 Netlist,進而認識新式轉法和舊式轉法有何不同及優缺點的分析,透過本章學習可以對 Allegro 和 Capture 之間的互動關係,同時也能體驗出 Allegro 和 Capture 同步變更屬性等強大功能。Netlist 是連接線路圖和 Allegro Layout 圖檔的橋樑。在這裏所介紹的 Netlist 資料的轉入動作只是針對由 Capture(線路圖部分)產生的 Netlist 轉入 Allegro(Layout部分)1. 在 OrCAD Capture 中設計好線路圖。2. 然後由 OrCAD Capture 產生 Netlist(annotate 是在進行線路圖根據第五步產生的資料進行編改)。 3. 把產生的 Netlist 轉入 Allegro(layout 工作系統)。 4. 在 Allegro 中進行 PCB 的 layout。 5. 把在 Allegro 中產生的 back annotate(Logic)轉出(在實際 layout 時可能對原有的 Netlist 有改動過),並轉入 OrCAD Capture 裏進行回編。

    標簽: cadence allegro

    上傳時間: 2022-04-28

    上傳用戶:kingwide

  • 逆變器IGBT損壞原因分析及處理

    1前言萊鋼型鋼廠大型生產線傳動系統采用西門子SIMOVERT MASTER系列PWM交-直-交電壓型變頻器供電,變頻器采用公共直流母線式結構;冷床傳輸鏈采用4臺電機單獨傳動,每臺電機分別由獨立的逆變單元控制,逆變單元的控制方式為無速度編碼器的矢量控制,相互之間依靠速度給定的同時性保持同步。自2005年投入生產以來,冷床傳輸鏈運行較為穩定,但2007年2月以后,冷床傳輸鏈逆變單元頻繁出現絕緣柵雙極型晶體管(Insolated Gate Bipolar Transistor,IGBT)損壞現象,具體故障情況統計見表1由表1可知,冷床傳輸鏈4臺逆變器都出現過IGBT損壞的現象,故障代碼是F025和F0272原因分析1)IGBT損壞一般是由于輸出短路或接地等外部原因造成。但從實際情況上看,檢查輸出電纜及電機等外部條件沒有問題,并且更換新的IGBT后,系統可以立即正常運行,從而排除了輸出短路或接地等外部條件造成IGBT損壞。2)IGBT存在過壓。該系統采用公共直流母線控制方式,制動電阻直接掛接于直流母線上,當逆變單元的反饋能量使直流母線電壓超過DC 715 V時,制動單元動作,進行能耗制動;此外掛接于該直流母線上的其他逆變單元并沒有出現IGBT損壞的現象,因此不是由于制動反饋過壓造成IGBT燒壞。3)由于負荷分配不均造成出力大的IGBT損壞。從實際運行波形上看,負荷分配相對較為均勻,相互差別僅為2%左右,應該不會造成IGBT損壞。此外,4只逆變單元都出現了IGBT損壞現象,如果是由于負荷分配不均造成,應該出力大的逆變單元IGBT總是燒壞,因此排除由于負荷分配不均造成IGBT損壞。4)逆變單元容量選擇不合適,裝置容量偏小造成長期過流運行,從而導致IGBT燒毀。逆變單元型號及電機參數:額定功率90kw,額定電流186A,負載電流169 A,短時電流254 A,中間同路額定電流221 A,電源電流205 A,電機功率110kw,電機額定電流205 A,電機正常運行時的電流及轉矩波形如圖1所示。

    標簽: 逆變器 igbt

    上傳時間: 2022-06-22

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  • 基于PSpice的幾種常見整流電路分析與仿真

    各種電子設備都需要供電電源,提供所需穩定的直流電壓(或電流)和相應的功率。供電電源除采用電池外,更多的是采用電力網供電的電源,整流電路是這種電源電路中不可缺少的部分,其作用是將50 Hz的交流電壓轉換成單向脈動性直流電壓。常見整流電路主要有4種:半波整流、全波整流、橋式整流和倍壓整流電路。本文應用OrCAD/PSpice 92軟件分別對這4種整流電路的原理及特性作了分析和仿真。1 PSpice軟件簡介及仿真流程傳統的電路設計方法在分析和驗證電路的正確性和完整性時十分麻煩,并存在大量的重復性勞動。隨著電子設計自動化(EDA)技術的飛速發展,電路的設計已由傳統的手工設計轉向計算機輔助設計,計算機仿真分析是電路設計的一種重要環節,PSpice是由美國MicroSim公司推出的基于加州大學伯克利分校開發的電路仿真程序Spice的PC級電路仿真軟件,對電路不僅能進行一些基本的電路特性分析,還可以對電路元器件的參數進行統計仿真分析和對電路進行優化仿真設計,并將各種仿真分析的結果以波形、圖表或文本的方式直觀地反應出來,在電路設計中得到了廣泛地應用。

    標簽: pspice 整流電路

    上傳時間: 2022-06-23

    上傳用戶:fliang

  • 基于UEFI的底層API的性能分析及其功能測試的研究與設計

    在UEFI開源社區中,存在四個與UEFI BIOS相關的開源項目,分別為EDK(EFI Dev Kit),EDKII,EFI Shell和EFI Toolkit.其中,EDKII(EFI Development Kit)是一個開源的EFI BIOS的發布框架,其中包含一系列的開發示例和大量基本的底層庫函數,因此,對于其MDE(Module Development Environment)模塊開發環境的分析與測試能夠在最大程度上保證開發的穩定性和質量。因而選題具有一定的實用性和先進性,此外,整個分析和測試設計的過程中,能夠充分體現出在UEFI從事程序設計相對于傳統BIOS環境下的優勢。本論文計劃從以下幾個方面進行研究:1、學習研究UEFI(統一可拓展固件接口)技術;2、學習研究EDKII框架和相應的MDE(模塊開發環境);3、搭建MDE庫的測試框架MdeTestPkg:4、編寫MdeTestPkg下的測試實例,實現對MDE庫的分析與測試。通過對現有的UEFT(統一可擴展固件按口)技術的學習,深入了解UEFI BIOS的背景知識。在此基礎上,學習研究EDK II的整體架構和模塊單元開發設計的規范和方法,并用基于EDK 11搭建MDE(模塊開發環境)的測試框架,編寫類庫的測試實例。最終的結果是完成MDE,即模塊開發環境框架中的44個庫類在DXE階段的功能分析與測試,并且由于類際的4通性,使得測試的類際能夠在不同的平臺架構(如:IA32,X64和IPF等)上成功運行,具有很好的穩定性和健壯性。在本論文中,我只以NT32平臺架構為例,來說明MDE庫在NT32平臺下的測試框架的搭建以及對于MDE庫類的測試實例的設計,編寫和測試。

    標簽: uefi api

    上傳時間: 2022-06-26

    上傳用戶:kent

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